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微观形貌

联系方式:王老师:13560436009(微信同号)

林老师:13889906362(微信同号)

场发射透射电子显微镜(TEM)
设备型号:JEM-2100F
设备厂商:日本JEOL
用途:用于观察材料的微观形貌结构和成分
技术参数

1.点分辨率0.19nm

2.线分辨率0.14nm

3.加速电压:80,100,120,160,200kV 

4.倾斜角25°

5.STEM分辨率0.20nm

6.最大放大倍数150万倍;

7.HAADF探头;

8.单、双倾样品台;

9.日本JEOL公司的电冷 100 mm2 EDS;

10.美国GATAN公司的832 CCD



送样须知

1.样品状态

粉末、液体样品均可,薄膜和块体等无法直接测试,需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样请提前说明并确认。

2.样品成分要求

该说明仅针对材料测试类样品,生物类样品与材料类处理方式完全不同。一般对测试样品有如下几方面的要求

安全性无毒、无放射性

是否含有有机物有机物在高压下不稳定,拍摄过程中极易被打散,样品被打散的同时会污染到仪器,如需拍摄,请务必与工程师确认。带有机物的样品无法拍摄mapping

磁性磁性颗粒,易吸附到极靴上,原则上电镜(SEM和TEM)不拍磁性样品。但是不同的设备,测试老师不同的样品处理经验状况下,对所拍样品中磁性强弱的接受度不同,所以在预约时候请大家务必如实填写样品是否含磁及磁性的强弱。为方便区分样品是否有磁性及磁性强弱,我们按如下方法对磁性样品进行

磁性样品含铁、钴、镍、锰等磁性元素均为磁性样品。注意,磁性分硬磁和软磁,有些材料对外不表现磁性,但加磁场后容易磁化受热后磁性增强也需要义为磁性样品。