原子力显微镜(AFM)
设备型号：Dimension Edge
设备厂商：德国Bruker
用途：测试各种材料表面的形貌、粗糙度、弹性、硬度、化学反应等特性
技术参数
● 测量模式：
1．接触模式（Contact Mode）2．轻敲模式（Tapping Mode）3．相位成像模式（Phase imaging）4．抬起模式（Lift Mode）5．暗抬高模式（Dark Lift Mode）
● 测量模块：
1．表面形貌扫描2．静电力显微镜（EFM）3．导电原子力显微镜（CAFM）4．磁力显微镜（MFM）5．横向力／摩擦力显微镜（LFM）6．力曲线7．纳米压印8．图形化衬底（PSS）
● 扫描范围：100μm×100μm×10μm
● 噪声水平：不大于50pm（实现云母原子台阶测试要求）
● 样品尺寸：150mm×150mm×150mm （XYZ）
● 光学辅助观察系统：280～1285倍放大，180～1465μm视场范围，自动聚焦及缩放，1.5μm分辨率，计算机控制照明，彩色CCD摄像头
● 防震台：SPM专用防震台，防震频率0.5Hz
送样须知
1．样品状态可为粉末、液体、块体、薄膜样品；
2．粉末样品提供20mg，液体样品不少于1ml；
3．粉末／液体样品请务必备注好制样条件，包括分散液，超声时间；
4．薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5－3cm之间，厚度0.1－1cm之间，表面粗糙度不超过5um，一定要标明测试面，块状样品需要固定好，避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果。
