电子探针显微分析仪(EPMA)
设备型号：EPMA-8050G
设备厂商：日本岛津
用途：观察样品表面的形貌特征、进行微区成分的相关分析
技术参数
● 硬度标尺：4Be～92U
● 发射源：搭载高亮度肖特基发射体
● 二次电子图像分辨率：3nm（加速电压30kV）
● X射线取出角角度：52.5°，大限度减少X射线被吸收
● 分光晶体：全聚焦型
● X射线谱仪：高灵敏度、高分辨率型
送样须知
块体样品：长宽或直径不超过30mm，厚度不超过15mm；样品需上下表面平行，测试面务必抛光；不导电样品需要喷金或喷碳；最好标记好分析面上的测试点，未标记测试位置，测试时只选有代表性、较平整位置测试。
