热瞬态测试系统
设备型号：T3-Ster
用途：测试封装好的半导体器件的电压随着时间的瞬态变化，快速地获得准确的，重复性高的结温热阻数据以及结构内部信息
技术参数
1．加热功率：0－10A／150V（电流线性可调），满足大功率高压LED产品测试；
2．电流范围：0－10A，线性输出；
3．器件电压：0－150V；
4．电流准确度：0.05％；
5．K系数测试电流：0－200mA（电流线性可调），与外部控温装置联动，自动测试K系数；
6．电流范围：0－200mA，线性输出；
7．器件电压：0－150V；
8．电流准确度：0.05％；
9．Gate控制电压：0－10V（线性可调）
10．电压范围：0－10V；
11．电压准确度：0.05％；
12．加热状态到测试状态切换时间：1s；
