小光源近场分布测试系统
设备型号：SIG-400
用途：为LED及其他小光源进行近场发光强度的精准测量，实现更高精度、更快的光学设计分析
技术参数
CCD类型：全幅、冷却型恒温CCD
CCD位元精度：16位（65，536：1）动态范围
分辨率：512x512或1024x1024像素CCD选项
色度测量：CIE 1931匹配的XYZ滤光片
