U-doped GaN
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生长速率
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≥2um/h
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厚度均匀度
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<1.5%
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外延C、O杂质含量
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<1E17cm-3
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AlGaN(Al组分50%、70%、90%)
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生长速率
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>1um/h
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厚度均匀性
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<2%
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XRD 002/102
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350/600arcsec
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n-AlGaN(Al组分70%、
厚度0.5um)
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Si掺杂
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>1E19cm-3
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载流子浓度
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>2E17cm-3
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XRD 002/102
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350/600arcsec
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AlN
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生长速率
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>2um/h
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厚度均匀性
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<2%
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外延C、O杂质含量
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<1E18cm-3
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XRD 002/102
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400/1000arcsec
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表面粗糙度
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<2nm
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