1、高分辨X射线衍射仪（XRD）

一、信息详情

设备名称：高分辨X射线衍射仪（X Ray Diffraction）

设备型号：Smartlab 9kW

设备厂商：日本理学RIGAKU

二、技术参数

1. 仪器X光源系统

● X-射线发生器:最大输出功率：9kW

● X-射线光管: 最小焦斑尺寸0.4×8 mm2

2. 光学编码测角仪系统

● 扫描方式: θ/θ可联动或单动, 垂直方式

● 尤拉环

● 测角仪半径: 300 mm；测角仪为水平测角仪，测角仪最小步进为0.0001°

3. 光学系统

● 小角散射测试组件(SAXS/ Ultra SAXS)、多用途薄膜测试组件、微区测试组件、CBO-F微区光学组件、In-Plane测试组件（理学独有）

4. 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）

● 最大计数: 1,000,000 cps, 线性范围: 700,000 cps

三、送样须知

1. 样品状态要求：可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品可以涂在载玻片上干燥之后测试(有可能测试到基底，请悉知)；

2. 粉未样品要求：请准备至少20mg，0.1g以上最好。需要粒度均匀(粒度在45um左右或过200目筛子)，手摸无颗粒感，面粉质感，送样前请务必研磨好：如果因样品量少或粒度不符合要求导致的结果不好，无法提供免费复测；

3. 块状/薄膜样品要求：长宽1-2cm(一般不小于1cm)，厚度不超出15mm，若为立方体则平面长宽<20mm，且厚度范围50um-15mm；需要注明测试面，测试面需要平整光洁；

4. 液体样品要求：1m~10ml，样品浓度越高越好，只有液体中有晶体存在才可能出峰，液体样品测试难度大且不确定性大，若样品能够被干燥，建议干燥成粉未状态后，选择粉未状态进行测试；不接受腐蚀性液体。

四、联系方式

王老师：13560436009（微信同号）

林老师：13889906362（微信同号）

2、紫外光电子能谱仪（UPS） 

一、信息详情

设备名称：紫外光电子能谱仪（Ultraviolet Photoemission Spectroscopy）

设备型号：Nexsa

设备厂商：美国ThermoFisher

二、技术参数

1. 能量分辨率：

l 能量分辨率≤100 meV

2. 紫外光源：

l He紫外光源

l He II工作时，HeII/HeI 强度比高于1/2

3. 中和源：

l 配有满足绝缘样品UPS分析时荷电中和需要的静电模式中和源

三、送样须知

1. 块体样品要求平整，干净，导电性好，尺寸须大于5*5mm-小于10*10mm左右，厚度小于4mm；

2. 粉末样品不少于20 mg，粉末默认用压片法进行制样；

3. 请勿用手触摸样品表面，会引入污染。制好样后请尽快密封，避免其他物质污染。

4. UPS测试需要用导电双面胶把样品固定在样品台上，测试过的粉末样品没法回收，块体样品回收可能也受到污染或者破坏，不保证样品完好，特别建议尽量不回收样品！

四、联系方式

王老师：13560436009（微信同号）

林老师：13889906362（微信同号）

3、傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）

一、信息详情

设备名称：傅里叶变换红外光谱仪（Fourier Transform Infrared Spectrometer）

设备型号：Nicolet iS20

设备厂商：美国赛默飞

二、技术参数

5. 平面镜（非摇摆双动镜）电磁驱动迈克尔逊干涉仪，具有连续动态调整功能。

6. 光谱范围：7,800-350 cm-1

7. 光源：长寿命、高能量空冷中/远红外光源，预准直、对针定位、无需工具调整。

8. 光谱分辨率：≤0.25 cm-1

9. 波数精度：优于 0.0008 cm-1

10. 峰-峰噪音值：信噪比≥50,000:1（1 分钟扫描，KBr 分束器，MCT 检测器，4 cm-1 光谱分辨率）

11. ASTM 线性度：在4 cm-1 光谱分辨率下对 0.0%T 的偏离小于 0.1%T

12. 快速扫描：40 张谱图/秒@16cm-1 光谱分辨率

三、送样须知

1. 粉末样品干燥不含水，大于10mg，200目以上，可用于直接压片的粒度；

2. 易潮解的样品，请用户自备干燥剂放置;

四、联系方式

王老师：13560436009（微信同号）

林老师：13889906362（微信同号）